高低溫試驗箱低溫控製

製冷循環均采用逆卡若循環，該循環由兩(liang) 個(ge) 等溫過程和兩(liang) 個(ge) 絕熱過程組成，其過程如下：製冷劑經壓縮機絕熱壓縮到較高的壓力，消耗了功使排氣溫度升高。

本產(chan) 品滿足GB/T2423.1-2001 GB/T2423.3-1993 GB/T2423.2-2001等國家標準，以及其它相關(guan) 標準的要求。

高低溫試驗箱控製器

進口微電腦濕溫度集成控製器(溫度直接顯示百分數)

高低溫試驗箱精度範圍

設定精度：溫度±0.1℃、濕度±0.1%R·H

溫濕度傳(chuan) 感器

鉑電阻·PT100Ω

高低溫試驗箱加熱係統

*獨立係統，鎳鉻合金電加熱式加熱器

高低溫試驗箱加濕係統

外置隔離式，全不鏽鋼鍋爐式淺表麵蒸發式加濕器

高低溫試驗箱循環係統

耐高低溫低噪音空調型電機，多葉式離心風輪

高低溫試驗箱產(chan) 品具有模擬大氣環境中溫度變化規律。主要針對於(yu) 電工，電子產(chan) 品，以及其元器件及其它材料在高溫，低溫綜合環境下運輸，使用時的適應性試驗。用於(yu) 產(chan) 品設計，改進，鑒定及檢驗等環節。

溫度範圍：

指產(chan) 品工作室能耐受和(或)能達到的極限溫度。通常含有能控製恒定的概念，應該是可以相對長時間穩定運行的極值。一般溫度範圍包括極限高溫和極限低溫。

溫度波動度

這個(ge) 指標也有叫溫度穩定度，控製溫度穩定後，在給定任意時間間隔內(nei) ，工作空間內(nei) 任一點的zui高和zui低溫度之差。這裏有個(ge) 小小的區別“工作空間”並不是“工作室”，是大約工作室去掉離箱壁各自邊長的1/10的一個(ge) 空間。這個(ge) 指標考核產(chan) 品的控製技術。

一般標準要求指標為(wei) ≤1℃或±0.5℃。

高低溫試驗箱溫度均勻度

舊標準稱均勻度，新標準稱梯度。溫度穩定後，在任意時間間隔內(nei) ，工作空間內(nei) 任意兩(liang) 點的溫度平均值之差的zui大值。這個(ge) 指標比下麵的溫度偏差指標更可以考核產(chan) 品的核心技術，因此好多公司的樣本及方案刻意隱藏此項。

一般標準要求指標為(wei) ≤2℃

高低溫試驗箱溫度偏差

溫度穩定後，在任意時間間隔內(nei) ，工作空間中心溫度的平均值和工作空間內(nei) 其它點的溫度平均值之差。雖然新舊標準對此指標的定義(yi) 和稱呼相同，但檢測已有所改變，新標準更實際，更苛刻一點，但考核時間短點。

一般標準要求指標為(wei) ±2℃，純高溫試驗箱200℃以上可按實際使用溫度攝氏度(℃)±2%要求。