高低溫試驗箱符合標準介紹

    高低溫試驗箱符合標準有:GB/T2423.1-2001GB/T2423.2-2001 GB/T2423.3-1993GB/T2423.4-1993

    GB/T 2423.1-2001 電工電子產(chan) 品環境試驗

    第1部分：試驗方法試驗A：低溫：簡介：本標準所涉及的低溫試驗適用於(yu) 非散熱和散熱兩(liang) 類試驗樣品。對於(yu) 非散熱試驗樣品，試驗Aa和Ab不違背早期發行的標準。本標準於(yu) 用來考核或確定電工、電子產(chan) 品（包括件、設備及其他產(chan) 品）在低溫環境條件下貯存和（或）使用的適應性。這一低溫試驗不能用來評價(jia) 試驗樣品對溫度變化的耐抗性和在溫度變化期間的工作能力，在這種情況下，應當采用試驗N:溫度變化試驗方法。

    低溫試驗方法分為(wei) 以下三類:非散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Aa:溫度突變——試驗Ab:溫度漸變散熱試驗樣品低溫試驗:——試驗Ad:溫度漸變本試驗方法通常用於(yu) 條件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。試驗持續時間是從(cong) 試驗樣品溫度達到穩定時開始計算的。

    在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩定，則試驗持續時間從(cong) 試驗箱（室）達到規定試驗溫度時開始計算。相關(guan) 規範應規定:a）試驗箱（室）內(nei) 溫度變化速率;b）試驗樣品放入試驗箱（室）的時間;c）試驗樣品在試驗條件下暴露試驗開始的時間;d）試驗樣品通電或加負載的時間。在這些條件下，相關(guan) 規範的製定者可根據GB/T2424.1-1989導則選定以上4個(ge) 參數（以上條件下的修訂正在考慮之中）。

    GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chan) 品環境試驗

    第2部分：試驗方法 試驗B：高溫：簡介：本標準敘述的高溫試驗適用於(yu) 散熱和非散熱兩(liang) 類試驗樣品。對於(yu) 非散熱試驗樣品，試驗Ba和Bb基本上不違背早期發行的標準。本高溫試驗的目的於(yu) 確定件、設備或其他產(chan) 品在高溫環境條件下使用或貯存的適應性。

    本高溫試驗不能用來評價(jia) 試驗樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應當采用試驗N:溫度變化試驗方法。高溫試驗方法分為(wei) :非散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Ba:溫度突變;試驗Bb，溫度漸變。散熱試驗樣品高溫試驗:試驗Bc:溫度突變;試驗Bd:溫度漸變。本試驗方法通常用於(yu) 條件試驗期間能達到溫度穩定的試驗樣品。試驗持續時間是從(cong) 試驗樣品溫度達到穩定時開始計算。

    在特殊情況下，如果條件試驗期間試驗樣品達不到溫度穩定。則試驗持續時間從(cong) 試驗箱（室）達到規定試驗溫度時開始計算。相關(guan) 規範應規定:a）試驗箱（室）內(nei) 溫度變化速率;b）試驗樣品放人試驗箱（室）的時間;c）試驗樣品在試驗條件下暴露開始的時間;d）試驗樣品通電或加負載的時間。對於(yu) 這些情況，相關(guan) 規範的製定者可根據GB/T2424.1-1989導則選定以上4個(ge) 參數（包含以上這些情況的修正件在考慮之中）。

    GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chan) 品基本環境試驗規程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法（已作廢，被GB2423.3-2006替代）

    GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chan) 品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱方法 ：簡介：本標準等同采用IEC60068-2-78：2001，規定了電工電子產(chan) 品恒定濕熱試驗的嚴(yan) 酷等級，適用於(yu) 散熱和非散熱樣品。本標準適用於(yu) 確定電工電子產(chan) 品、元件或設備在高濕度的條件下使用、儲(chu) 存和運輸時的適應性。

    GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chan) 品基本環境試驗規程 試驗Db:交變濕熱試驗方法：簡介：本標準規定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴(yan) 酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。本標準適用於(yu) 確定電工電子產(chan) 品或材料在溫度循環變化、產(chan) 品表麵產(chan) 生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應性。